Récord mundial en el uso de rayos X: exploran el interior de un microchip con una precisión de 4 nanómetros
En una colaboración entre el Instituto Paul Scherrer (PSI), la EPFL de Lausana, ETH Zúrich y la Universidad del Sur de California, un grupo de investigadores ha logrado un avance sin precedentes: examinar el interior de un microchip utilizando rayos X con una resolución de 4 nanómetros, marcando un nuevo récord mundial.
